Registro Geofísico de Pozos

¿Qué es un registro geofísico de pozos?

Consiste en medir parámetros físicos que caracterizan las formaciones de roca en un pozo. Estas medidas son presentadas contra la profundidad de la perforación, es decir, un registro de la geología y/o información petrofísica del pozo.

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¿Para qué sirve?

Sirve para determinar las áreas permeables y porosidad de las rocas, también para caracterizar los estratos presentes y de este modo poder correlacionarlos con otras perforaciones.

¿Cómo lo realizamos?

En HidroAmbiente Consultores utilizamos un equipo que posee una sonda especializada, la cual se introduce una vez finalizada la perforación del pozo, dicha sonda puede medir parámetros físicos de las rocas tales como radiactividad gamma natural, potencial espontáneo y resistividad eléctrica.


Parámetros de registro:

  • Radiactividad Gamma Natural: Muestra el valor de radiación gamma que, de forma natural, emiten las distintas litologías, lo que permitirá diferenciar las capas. Es decir, sirve para la identificación litológica y la determinación del porcentaje de arcillas.

  • Potencial espontáneo: Refleja las medias de la diferencia de potencial natural entre un electrodo localizado en el sondeo y otro emplazado en superficie. Permite diferenciar las capas que contienen agua de las que están cementadas. Además, diferenciar las capas permeables con agua dulce de las que contienen agua salada.

  • Resistividad de la formación: Refleja la propiedad intrínseca de cada material para oponerse al flujo de la corriente eléctrica. Se utiliza para la interpretación y textura de las litologías, ya que descensos de resistividad van a indicar tramos de mayor porosidad, relacionado con presencia de fracturas.

La representación gráfica de cada uno de esos parámetros medidos con respecto a la profundidad constituye el resultado de la técnica, el documento generado se denomina registro geofísico, diagrafías o logs.


Referencias

Tittman, J. (1986). Geophysical Well Logging. Methods of experimental physics, Vol. 24, p. 175. Orlando, Florida: ACADEMIC PRESS, INC.